La metrologia, la scienza delle misurazioni, include tutti gli aspetti sia teorici che pratici con riferimento alle misurazioni, qualunque sia la loro incertezza e in qualunque campo della scienza o della tecnologia si verificano. Di conseguenza anche il campo della valorizzazione, caratterizzazione e conservazione dei Beni Culturali è profondamente legato alle problematiche metrologiche per la raccolta, interpretazione e validazione dei dati raccolti con le diverse tecniche analitiche, fisico-chimiche, meccaniche e digitali.
Quest’anno la conferenza si terrà a Milano dal 20 al 22 ottobre ed è pensata per favorire lo scambio di idee e informazioni, creare reti di collaborazione e aggiornare riguardo le innovazioni sulle “misurazioni” adatte al patrimonio culturale per archeologi, conservatori e scienziati.
La scadenza per l’invio degli extended abstract è il prossimo 30 aprile.
Maggiori informazioni sul sito dell’evento.
