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SEM Series: an instrument for every requirement

Un nuovo appuntamento con i webinar AIAr-Aziende, giovedì 23 maggio alle ore 10.30 JEOL Italia con il Dr. Ferraina presenterà la Line-Up dei microscopi elettronici a scansione adatta per ogni esigenza analitica. Il Dr. Paolo Ferraina, Ingegnere delle Nanotecnologie laureatosi presso l’Università “La Sapienza” di Roma, da circa un anno lavora come Sales Engineer presso...

Scuola AIAr “Tecniche analitiche per i Beni Culturali”

In occasione del Convegno Nazionale, che si terrà a Cosenza, presso l’Università della Calabria, dal 9-11 Marzo 2016, l’AIAr, in collaborazione con il comitato organizzativo locale, nei giorni precedenti al Convegno (7-8 marzo), organizza una scuola rivolta a dottorandi, borsisti ed assegnisti attivi nel campo delle scienze applicate ai beni culturali.

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